A
C
D
F
G
H
I
IF bandwidth 中频带宽
可以通过设备或电路发送而没有显著失真的总频率范围。例如,如果发射机能够在0和100MHz之间的整个频率范围内发送信号而没有显著失真,则发射机被称为具有100MHz的IF带宽。
Incident power 事件功率
施加到设备、电路或网络的功率。为了测试设备或电路,入射功率必须足以测量该设备或电路。例如,如果使用VNA测试具有已知插入损耗的RF开关,则施加在该RF开关端口的入射功率必须足够大,以便能够成功测量其插入损耗。
L
M
Measurement accuracy 测量精度
测量量的结果与真实值或可接受值之间的一致程度。它通常通过一个测试与另一个测试之间的误差差异来量化,这称为重复性。测量精度通常取决于许多因素,包括时间、环境条件、被测部件的类型等。
Measurement application 测量应用程序
使用网络分析仪来确定设备或电路的特性,并根据频率提供这些测量值。例如,射频和微波矢量网络分析仪可以通过在一定频率范围内进行S参数测量,用于阻抗、回波损耗和传输线分析。
N
O
P
R
Reduced-reflectometer calibration 减反射计校准
一种用矢量网络分析仪进行阻抗测量的技术。用于将一个或多个矢量网络分析仪适配成可产生准确阻抗测量而不需要昂贵校准夹具的缩减反射计。
Reference channel 参考通道
矢量网络分析仪中提供稳定校准信号的高频路径。为了实现准确的阻抗测量,参考信道路径的功率必须比被测器件高50 dB。由于使用两个或多个端口进行测量可以提高它们的精度,因此可以将参考通道路径与一个或更多个校准端口组合以实现这一点。
Reflection coefficient 反射系数
一个值,描述射频信号的多少功率从被测设备反射。反射系数可以用电压或电流来表示,并告诉你入射(正向)和反射(反向)能量之间的比率。它有时被称为SWR(驻波比)。
Reflection measurements 反射测量
用于确定被测器件阻抗的测量值。矢量网络分析仪可以使用两种技术之一进行精确的反射测量:绝对技术和相对技术。在这两种情况下,测试设备上两个或多个校准端口的反射都是在不同频率下测量的。相对测量说明了校准端口中的相位和振幅差异,以准确地提供阻抗测量。
Residual port parameters 剩余端口参数
总设备S参数和原始端口参数测量值之间的差异。随着矢量网络分析仪噪声系数的降低、校准精度的提高、探头匹配的改善、源VSWR的降低或源功率的增加,它们变得更小。
S
S-parameters S 参数
通过指定反射信号的幅度和相位,描述射频信号如何响应设备端口的值。该名称来源于“散射”的S。S参数可以以表格或图形的形式表示,并且是有价值的测量,因为它们可以洞察设备的整体性能和健康状况。
Signal source 信号源
产生特定波长电磁能的装置。信号源可用于测量诸如频率和幅度的参数数据。用于矢量网络分析仪的信号源包含校准的、明确定义的属性,如噪声系数、输出功率、输出阻抗和频率稳定性。
Simultaneous measurement 同时测量
同时测量设备上所有端口的反射系数(S参数)的行为。该测量使用一个或多个校准的射频源进行,这些射频源在其他矢量网络分析仪、测试设备或被测设备之间共享时间。这些测量可以使用绝对技术或相对技术进行。
Slow sensitivity fluctuations 缓慢的灵敏度波动
当在被测设备上进行测量时,矢量网络分析仪的噪声系数可能不是恒定的。相反,它可以作为频率和温度的函数而变化。这种故障被称为慢灵敏度波动(SSF),通常由矢量网络分析仪前端的缺陷组件引起。SSF可能由布线不良、探头连接不良、连接器脏污甚至校准波形缺陷或缺失造成。
Smith chart 史密斯圆图
一种图表,每个轴代表不同的量,用于使用S参数数据以图形方式计算阻抗。这对于表征元件和电路中的阻抗失配非常有用。在数字计算机上执行复杂的数学运算时,使用史密斯圆图可以最大限度地减少舍入误差。史密斯圆图允许阻抗匹配问题、合成、滤波器设计和电路分析的组件模型的图形表示。