• 160 MHzの帯域幅と10 Hz～50 GHzという広いスペクトラム範囲で信号解析の詳細な考察が可能

• ハードウェアアクセラレーション方式のパワー測定、表示の迅速な更新、ピークサーチの高速な表示、確実な掃引機能によりテスト時間を短縮

• 広範囲のI/Qサンプルを捕捉することで、リアルタイムの信号特性評価が可能

• 複雑な信号を最小0.3 %（－50 dB）という極めて小さなEVMまで正確に測定

• PathWave Xシリーズ測定アプリケーションのワンボタン測定による簡単な手法を活用して、ペースの速いテストが可能

• 見逃しやすい信号や過渡信号のターゲット解析により、フルバンドのリアルタイムスペクトラムを細部まで捕捉

無料でダウンロード可能なXシリーズ アプリケーションによって、お客様の携帯電話、無線機器、および航空宇宙／防衛機器の性能に関してスケーラブルな選択をしながら設計を特性評価できる究極のソリューションです。

• パラメトリック測定から最新の規格に準拠した複雑な無線測定まで、詳細を調査して機器性能を把握できるプラットフォームを提供
• 統合アプリケーションで、設計から検証、さらに製造の段階までを通じて、徹底的にテスト測定することで、設計手順を促進
• 短時間で信号と機器性能を理解するための測定専門知識を内蔵

• スループット、再現性、および拡張性に優れた、正確で頼れるテストステーションの構築
• 一貫した直観的なユーザーナビゲーションにより構造化された測定シーケンスにより、短時間で最適な結果を取得可能
• アップグレード可能なソフトウェアとハードウェアによるリソースの保護
• 線形／非線形デバイスの表現とモデリング
• タイムドメイン、周波数ドメイン、およびアイダイアグラム解析による高速シリアルインターコネクト評価の実行
• 材料測定、パワーインテグリティー解析、および新しいアプリケーション向けのアップグレードを提供

ミキサーなどの非線形デバイスの表現は、複雑な非線形動作、測定方式、不要な誤差を伴うため、非常に要求の厳しい、困難な作業になります。ENA RFネットワーク・アナライザは、スカラーミキサー校正(SMC)とベクトルミキサー校正(VMC)により、ミキサー特性評価の複雑さを簡単に解決して、スループットを向上させることができます。このような迅速な校正手法により、変換損失、群遅延、相互変調歪みなどのミキサーパラメータを厳密に検討できるようになります。